寬發散光束的測量難題

在快速增長的市場中，VCSEL、LED、邊緣發射和光纖激光器被用于許多敏感應用。為了保證器件的高質量，有必要對光束輪廓進行分析，但那些寬發散光束也對測量系統提出了特殊的要求。一方面，傳統光束輪廓儀的孔徑太小，無法采集大發散光源的整個光斑。另一方面，由于探測器的量?效率極其依賴入射角，因此無法使用常規探測器精確地測量發散光束。如今，隨著 Ophir 寬光束成像儀（WB-I）的開發，這些難題已迎刃而解。WB-I 是一種用于光束輪廓相機的校準光學附件，基于45mm 孔徑的漫射器和?于遠場測量的成像透鏡。。。。