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來源:卡爾蔡司(上海)管理有限公司
發布時間:2023-02-28
白皮書簡介
很長一段時間以來,人們使用傳統的接觸式測頭量測方法對工件進行量測,該方法經多年實踐應用,技術比較成熟,應用經驗豐
富,具有較廣泛的實踐價值。
接觸式測頭自動量測設備精準度高,是進行幾何量測的優良選擇。尤其在精密測量領域,該技術可對鉆孔圓度等幾何誤差進行量
測。因該接觸式測量技術誕生歷史悠久,存在比較客觀,標準的行業技術規范。
本份白皮書著重介紹了創新的三維光學掃描量測系統/技術(ZEISS OPTOTECHNIK 三維光學掃描COMET 系列, T-SCAN 系列)與傳統接觸式測頭量測系統/技術之間的區別。
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