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FARO CREAFORM宣布其全新升級適配 Quantum X FaroArm® 系列與 Quantum Max FaroArm® 系列的激光測頭 (LLP) 產品線。本次升級搭載經優(yōu)化的圖像處理算法,可顯著提升掃描數(shù)據的一致性、加快數(shù)據采集速度,對表面處理難度高、對比度差異大的工件尤為顯著。

激光測頭廣泛應用于制造業(yè)的非接觸式檢測、逆向工程與CAD比對作業(yè),但在黑色、高亮、高反光或高對比度表面上掃描時,往往需要額外調試、多次掃描或手動調整才能獲取有效數(shù)據。本次升級直接針對此類問題優(yōu)化 LLP 圖像處理機制,幫助用戶輕松獲取更清晰、更一致的點云數(shù)據。

此次升級依托FARO CREAFORM認可的LLP處理系統(tǒng)DTEX,不僅能為各類復雜材質提供更高質量的測量數(shù)據,同時也減少了微調采集參數(shù)的需求。內部性能基準測試顯示,在典型復雜工件上,數(shù)據采集效率提升率高達60%,且不影響測量數(shù)據完整性。
除優(yōu)化LLP性能外,本次升級還進一步強化了FARO 8-Axis Max (8 軸旋轉工作臺)的應用價值,該計量級旋轉工作臺可有效延伸 FaroArm測量系統(tǒng)的掃描范圍。與Quantum X FaroArm以及搭載DTEX技術支持的LLP使用時,8軸旋轉工作臺8-Axis Max能大幅提升大型或復雜工件的掃描效率。通過內置編碼器精準測量工件旋轉角度,并與測量臂數(shù)據同步融合,可在單次流暢的三坐標測量工作流程中,將 DTEX 增強數(shù)據完整應用于整個工件。

本次更新適用于全系列激光測頭,進一步提升了系統(tǒng)在日常測量場景中的實用價值。
FAROBlu® xR:具備最高分辨率掃描能力,可對關鍵微小細節(jié)特征提供高質量測量結果。
FAROBlu® xS:具備最高的掃描效率,能在高強度的制造應用中提升處理能力。
FAROBlu® xP:完美兼顧分辨率與效率,在維持處理能力的同時又能提供高密度、高精度數(shù)據。
Quantum X FaroArm® 系列:在更廣泛的工件表面條件下實現(xiàn)更精準、更可靠的LLP掃描,全面支持檢測、逆向工程與質量控制工作流程。兼容全系列激光測頭 FAROBlu LLP,確保這些優(yōu)化成果覆蓋所有激光測頭工作流程應用場景。
FARO 8-Axis Max (8軸旋轉工作臺):搭配Quantum X測量臂與 FAROBlu LLP激光測頭使用時,可通過減少設備移動、優(yōu)化操作體驗實現(xiàn)更高效的工作流程,同時提供符合ISO 17025認證校準標準的高精度測量結果。
LLP激光測頭工作流程的重要躍升
本次升級旨在為現(xiàn)有FaroArm與激光測頭(LLP)用戶創(chuàng)造更多價值,無需更換硬件即可優(yōu)化工作流程。通過優(yōu)化圖像處理層、簡化復雜表面的處理方式,F(xiàn)ARO CREAFORM旨在提升新老用戶的日常作業(yè)效率,同時又兼容現(xiàn)有測量標準與流程。
此次更新體現(xiàn)了FARO CREAFORM不斷深耕便攜式計量產品組合,以應用為核心進行優(yōu)化升級的持續(xù)投入,為在生產與質量控制環(huán)節(jié)依賴穩(wěn)定、可追溯測量數(shù)據的制造商提供堅實支持。


