泰瑞達推出Omnyx：重新定義AI時代的電路板測試

2026年4月2日，中國 北京訊——全球領先的自動測試設備和先進機器人供應商泰瑞達（NASDAQ:TER）近日推出突破性測試平臺Omnyx，該平臺專為印刷電路板組裝（PCBA）和子組件打造，能夠滿足AI和數據中心類產品的獨特測試需求。泰瑞達Omnyx將結構、參數、高速互連和功能測試集成于單一平臺，樹立行業全新標準，有效解決關鍵制造挑戰，助力減少缺陷漏檢，并提升最終組裝產品質量。

下一代AI和數據中心產品對傳統在線測試（ICT）提出了挑戰。ICT的檢測重心為組裝過程中產生的結構和參數故障。然而，隨著數據中心組裝的復雜度與價值持續提升，制造商亟需一個全面的測試平臺，在最終組裝之前偵測并定位全新的信號完整性問題和功能性缺陷。

泰瑞達Omnyx整合了高速互連與任務模式/軟件引導測試能力，可實現對全速和操作缺陷的有效覆蓋，而這類缺陷以往通常只能在功能測試插入環節中檢測到。通過該方案，制造商能在制造過程更早階段發現高成本缺陷，從而提高元器件和子組件的質量。此舉有助于推動生產線末端良率和產品質量雙提升，滿足當下高性能數據中心的嚴格要求。

泰瑞達電路板測試事業部總經理Mark Kahwati表示：

泰瑞達電路板測試事業部總經理Mark Kahwati表示：“泰瑞達Omnyx是PCBA測試領域的一次重大飛躍，為客戶提供了應對現代AI和數據中心硬件需求的關鍵工具。該平臺不僅能提升產品質量，更能縮短產品上市周期，這在當下快節奏的市場環境中至關重要。行業正不斷創新解決方案以支撐先進AI應用，而我們這款平臺直擊客戶面臨的復雜測試挑戰，能為其提供有效解決方案，我們對此深感自豪。”

傳統制造缺陷測試的方式已難以應對AI和數據中心基礎設施測試的獨特挑戰，泰瑞達Omnyx平臺則針對性地攻克了這一難題。其采用全維度測試方案，融合結構、參數、操作及高速互連測試能力，確保制造流程在兼顧經濟效益的同時實現可擴展性。