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Creaform斬獲久負盛名的 2017 IDEA 大獎

來源:Creaform 發布時間:2017-08-30 2185
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公司憑借光學 CMM 解決方案和 3D 掃描儀榮膺 IDEA 2017 商用與工業產品類大獎
Creaform 近日宣布,其便攜式光學 CMM 解決方案和 3D 掃描儀(包括 MetraSCAN 3D、C-Track 和 HandyPROBE Next)榮獲國際工業設計杰出大獎 (IDEA) 銅獎。一年一度的 IDEA 是由美國工業設計協會 (IDSA) 舉辦的頂級國際設計大賽。
 
Creaform 斬獲久負盛名的 2017 IDEA 大獎
 
今年的 IDEA 大賽由全球二十四位設計專家擔當評委,對 20 個類別的數百個參賽作品進行評審。這些參賽作品分別由 54 個國家的眾多設計公司、企業和大學選送。評委們從設計創新、用戶體驗、客戶受益、社會責任及設計美感等方面對參賽產品進行了評審。
 
“Creaform 的解決方案能夠贏得由美國工業設計協會頒發的這一著名大獎,這讓我們倍感激動,”Creaform 高級工業設計師 Nicolas Lebrun 和 Fran?ois Lessard 表示。“能夠擊敗如此之多的優秀競爭對手,這是我們的榮耀。此次獲獎充分證明 Creaform 擁有領先的計量和質控方法以及強大的產品研發實力,能夠將新穎的創新、匠心的設計及超凡的用戶體驗完美融合。”
 
此外,Creaform 的便攜式光學 CMM 系列產品還曾憑借其出色的品質和突破性的設計榮獲2016紅點產品設計至尊大獎。
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